Anna Maria CUCOLO | LABORATORIO DI FISICA DELLA MATERIA
Anna Maria CUCOLO LABORATORIO DI FISICA DELLA MATERIA
cod. 0512600027
LABORATORIO DI FISICA DELLA MATERIA
0512600027 | |
DIPARTIMENTO DI FISICA "E.R. CAIANIELLO" | |
CORSO DI LAUREA | |
FISICA | |
2017/2018 |
ANNO CORSO 3 | |
ANNO ORDINAMENTO 2010 | |
SECONDO SEMESTRE |
SSD | CFU | ORE | ATTIVITÀ | |
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FIS/01 | 3 | 24 | LEZIONE | |
FIS/01 | 3 | 36 | LABORATORIO |
Obiettivi | |
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CONOSCENZA E CAPACITÀ DI COMPRENSIONE: L'INSEGNAMENTO TRATTA VARI ASPETTI LEGATI ALLA CONOSCENZA E ALLA UTILIZZAZIONE DELLE TECNICHE SPERIMENTALI PIÙ RICHIESTE PER LA CARATTERIZZAZIONE DI VARIE TIPOLOGIE DI MATERIALI SPECIALI. UNO DEGLI OBIETTIVI È QUELLO DI OTTENERE CHE LO STUDENTE ABBIA UN BUON LIVELLO DI CHIAREZZA E DI CONOSCENZA DEGLI ARGOMENTI TRATTATI E DELLA STRUMENTAZIONE UTILIZZATA. CAPACITÀ DI APPLICARE CONOSCENZA E COMPRENSIONE: SCOPO DELL'INSEGNAMENTO È QUELLO DI OTTENERE CHE LO STUDENTE SVILUPPI LA CAPACITÀ DI UTILIZZARE STRUMENTAZIONE ALL’AVANGUARDIA E DI ANALIZZARE CRITICAMENTE I RISULTATI OTTENUTI IN VISTA SIA DEI SUCCESSIVI PERCORSI DI STUDIO SIA DELL’UTILIZZAZIONE IMMEDIATA PRESSO AZIENDE DEL SETTORE. |
Prerequisiti | |
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CONOSCENZA DEGLI ARGOMENTI TRATTATI NEI CORSI FISICA I, FISICA II, STRUTTURA DELLA MATERIA |
Contenuti | |
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TECNICHE PER LA PRODUZIONE E PER LA MISURAZIONE DEL VUOTO. TECNICHE DI DEPOSIZIONE DI FILM SOTTILI. TECNICHE DI DIFFRAZIONE A RAGGI X PER L’ ANALISI STRUTTURALE. LITOGRAFIA OTTICA ED ELETTRONICA. MICROSCOPIA ELETTRONICA (SEM). MICROSCOPIA AD EFFETTO TUNNEL (STM). MICROSCOPIA A FORZA ATOMICA (AFM). MISURE DI RESISTENZA IN FUNZIONE DELLA TEMPERATURA. |
Metodi Didattici | |
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LEZIONI FRONTALI E ATTIVITÀ DI LABORATORIO |
Verifica dell'apprendimento | |
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ESAME ORALE CON DISCUSSIONE DI UN ELABORATO SCRITTO RELATIVO AD UNA SPECIFICA TECNICA UTILIZZATA IN LABORATORIO. |
Testi | |
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VUOTO: L.N. ROZANOV, "VACUUM TECHNIQUE", EDITO DA M.H.HABLANIAN J.L. RYANS, D.L. ROPER, "VACUUM SYSTEM DESIGN AND OPERATION" FILM SOTTILI: "HANDBOOK OF THIN FILMS" RAGGI X: N.W. ASCHROFT, N.D. MERMIN, "SOLID STATE PHYSICS" STM/AFM MICROSCOPY: D.A. BONNEL “SCANNING PROBE MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY” |
BETA VERSION Fonte dati ESSE3 [Ultima Sincronizzazione: 2019-05-14]