LABORATORIO DI ELETTRONICA

Heinrich Christoph NEITZERT LABORATORIO DI ELETTRONICA

0612400027
DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA INDUSTRIALE
CORSO DI LAUREA
INGEGNERIA ELETTRONICA
2017/2018

ANNO CORSO 3
ANNO ORDINAMENTO 2012
PRIMO SEMESTRE
CFUOREATTIVITÀ
660LEZIONE
Obiettivi
- SAPER APPLICARE LE CONOSCENZE DELLO STUDENTE SUI DISPOSITIVI E CIRCUITI ELETTRONICI DI BASE PER REALIZZARE E TESTARE SEMPLICI CIRCUITI ELETTRONICI PER SPECIFICHE APPLICAZIONI.
- CONOSCERE I PRINCIPALI DISPOSITIVI ELETTRONICI E I METODI DI CARATTERIZZAZIONE DELLE PROPRIETA' STATICHE E DINAMICHE DI TALI DISPOSITIVI.
- COMPRENDERE LA TERMINOLOGIA UTILIZZATA NEI DATASHEET DEI COMPONENTI ELETTRONICI.
- SVILUPPARE LA CAPACITA' DI ESTRARRE I PARAMETRI DEI DISPOSITIVI ELETTRONICI ATTRAVERSO UNA OPPORTUNA CARATTERIZZAZIONE ELETTRICA; GENERARE I DATASHEET.
- SAPER SCEGLIERE I DISPOSITIVI APPROPRIATI PER PROGETTARE SEMPLICI CIRCUITI ELETTRONICI.
- SAPER REALIZZARE UN SISTEMA DI MISURA, LAVORANDO IN GRUPPO, PER LA CARATTERIZZAZIONE DI COMPONENTI ELETTRONICI E CAPACITA' DI DISCUTERE IN MODO CRITICO I RISULTATI OTTENUTI.

- ABILITA' COMUNICATIVE
ESSERE IN GRADO DI DESCRIVERE, IN FORMA ORALE E SCRITTA, IN MODO CORRETTO, CHIARO E SINTETICO LE CONOSCENZE ACQUISITE, I RISULTATI DEI CALCOLI ESEGUITI E LE ESPERIENZE SVOLTE IN LABORATORIO

- CAPACITA' DI APPRENDERE
SAPER APPROFONDIRE GLI ARGOMENTI PRESENTATI DURANTE IL CORSO UTILIZZANDO MATERIALE DIVERSO DA QUELLO PROPOSTO

Prerequisiti

CONOSCENZA DEGLI ELEMENTI FONDAMENTALI DELL' ELETTROTECNICA ED ELETTRONICA.
Contenuti
- CARATTERIZZAZIONE DELLE PROPRIETA' STATICHE E DINAMICHE DEI DISPOSITIVI ELETTRONICI DI BASE: MISURA ED ESTRAZIONE DEI PARAMETRI DALLE CARATTERISTICHE STATICHE DI DISPOSITIVI: DIODO PN E SCHOTTKY, BJT, JFET E MOSFET. (teo: 4ore, ese: 2ore, lab: 8ore)

- INFLUENZA DELLA TEMPERATURA SULLA CARATTERISTICA ELETTRICA DEI DIODI. (teo: 1ora, lab: 2ore)

- MISURAZIONE DEI TEMPI DI COMMUTAZIONE DEI DIODI PN E DIODI SCHOTTKY.
(teo: 1ora, lab: 2ore)

- SVILUPPO DI APPLICAZIONI UTILIZZANDO DIODI PER LA SENSORISTICA E L' OPTOELETTRONICA: SENSORI DI TEMPERATURA; FOTOSENSORI; CELLE SOLARI E DIODI LUMINESCENTI. (teo: 1ora, lab: 4ore)

- CARATTERIZZAZIONE DELLA FUNZIONALITA' LOGICA E DELLA FUNZIONE DI TRASFERIMENTO DELLE PORTE LOGICHE BASATE SU TECNOLOGIE DIFFERENTI. (teo: 3ore, ese: 1ora, lab: 6ore)

- REALIZZAZIONE DI UN OSCILLATORE AD ANELLO PER LA CARATTERIZZAZIONE DINAMICA DELLE PORTE LOGICHE. (teo: 2ore, lab: 4ore)

- PROGETTAZIONE, ASSEMBLAGGIO E CARATTERIZZAZIONE DI SEMPLICI CIRCUITI ANALOGICI E DIGITALI. (teo: 2ore, ese: 2ore, lab: 11ore)

- SCRITTURA DI TEST SOFTWARE CON SISTEMI DI PROGRAMMAZIONE AD OGGETTO. (teo: 1ora, lab: 3ore)




Metodi Didattici
LEZIONI TEORICHE ED ESERCITAZIONI DI LABORATORIO, CHE SARANNO FINALIZZATE AL DIMENSIONAMENTO, MONTAGGIO E CARATTERIZZAZIONE DI DISPOSITIVI E DI CIRCUITI ELETTRONICI (DA SVOLGERE DA GRUPPI DI STUDENTI).


Le esercitazioni in aula hanno lo scopo di illustrare gli aspetti applicativi degli argomenti presentati nelle lezioni teoriche. Lo svolgimento del problema è curato dal docente e tende a stimolare nell’allievo:
•l’individuazione della metodologia di analisi e delle relazioni analitiche da utilizzare;
•la scelta della soluzione ottimale del problema
•la metodologia da seguire per una presentazione chiara dello svolgimento del problema.

Verifica dell'apprendimento
L'APPRENDIMENTO VERRA VALUTATO MEDIANTE UN COLLOQUIO ORALE. LA PROVA ORALE CONSISTE NELLA PRESENTAZIONE E NELLA DISCUSSIONE DELL' ELABORATO, BASATO SUI ESERCIZI CHE LO STUDENTE HA SVOLTO DURANTE I LABORATORI, E CHE LO STUDENTE IN SEDE DI ESAME PRESENTERA ALLA COMMISSIONE. LA VOTAZIONE DELLA PROVA ORALE SI BASA SULLA QUALITA' DELLA RELAZIONE, SULLA CONOSCENZA DELLO STUDENTE DELLA MATERIA DEL CORSO E SULLO SPIRITO CRITICO CON CUI PRESENTERA LA RELAZIONE.
Testi
- RICHARD C. JAEGER AND TRAVIS N. BLALOCK, MICROELETTRONICA, McGRAW HILL , EDIZIONE 2009.
- DATASHEET DISTRIBUITE A CURA DEL DOCENTE

Testi di consultazione e approfondimento:
- JOACHIM N. BURGHARTZ, STATE-OF-THE-ART ELECTRON DEVICES, WILEY AND IEEE PRESS, 2013.


  BETA VERSION Fonte dati ESSE3 [Ultima Sincronizzazione: 2019-05-14]