LABORATORIO DI ELETTRONICA

Heinrich Christoph NEITZERT LABORATORIO DI ELETTRONICA

0612400027
DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA INDUSTRIALE
CORSO DI LAUREA
INGEGNERIA ELETTRONICA
2022/2023

ANNO CORSO 3
ANNO ORDINAMENTO 2018
PRIMO SEMESTRE
CFUOREATTIVITÀ
660LEZIONE
Obiettivi
- SAPER APPLICARE LE CONOSCENZE DELLO STUDENTE SUI DISPOSITIVI E CIRCUITI ELETTRONICI DI BASE PER REALIZZARE E TESTARE SEMPLICI CIRCUITI ELETTRONICI PER SPECIFICHE APPLICAZIONI.
- CONOSCERE I PRINCIPALI DISPOSITIVI ELETTRONICI E I METODI DI CARATTERIZZAZIONE DELLE PROPRIETA' STATICHE E DINAMICHE DI TALI DISPOSITIVI.
- COMPRENDERE LA TERMINOLOGIA UTILIZZATA NEI DATASHEET DEI COMPONENTI ELETTRONICI.
- SVILUPPARE LA CAPACITA' DI ESTRARRE I PARAMETRI DEI DISPOSITIVI ELETTRONICI ATTRAVERSO UNA OPPORTUNA CARATTERIZZAZIONE ELETTRICA; GENERARE I DATASHEET.
- SAPER SCEGLIERE I DISPOSITIVI APPROPRIATI PER PROGETTARE SEMPLICI CIRCUITI ELETTRONICI.
- SAPER REALIZZARE UN SISTEMA DI MISURA, LAVORANDO IN GRUPPO, PER LA CARATTERIZZAZIONE DI COMPONENTI ELETTRONICI E CAPACITA' DI DISCUTERE IN MODO CRITICO I RISULTATI OTTENUTI.

- ABILITA' COMUNICATIVE
ESSERE IN GRADO DI DESCRIVERE, IN FORMA ORALE E SCRITTA, IN MODO CORRETTO, CHIARO E SINTETICO LE CONOSCENZE ACQUISITE, I RISULTATI DEI CALCOLI ESEGUITI E LE ESPERIENZE SVOLTE IN LABORATORIO

- CAPACITA' DI APPRENDERE
SAPER APPROFONDIRE GLI ARGOMENTI PRESENTATI DURANTE IL CORSO UTILIZZANDO MATERIALE DIVERSO DA QUELLO PROPOSTO

Prerequisiti

CONOSCENZA DEGLI ELEMENTI FONDAMENTALI DELL' ELETTROTECNICA ED ELETTRONICA.
Contenuti
- CARATTERIZZAZIONE DELLE PROPRIETA' STATICHE E DINAMICHE DEI DISPOSITIVI ELETTRONICI DI BASE: MISURA ED ESTRAZIONE DEI PARAMETRI DALLE CARATTERISTICHE STATICHE DI DISPOSITIVI: DIODO PN E SCHOTTKY, BJT, JFET E MOSFET. (teo: 4ore, ese: 2ore, lab: 8ore)

- INFLUENZA DELLA TEMPERATURA SULLA CARATTERISTICA ELETTRICA DEI DIODI. (teo: 1ora, lab: 2ore)

- MISURAZIONE DEI TEMPI DI COMMUTAZIONE DEI DIODI PN E DIODI SCHOTTKY.
(teo: 1ora, lab: 2ore)

- SVILUPPO DI APPLICAZIONI UTILIZZANDO DIODI PER LA SENSORISTICA E L' OPTOELETTRONICA: SENSORI DI TEMPERATURA; FOTOSENSORI; CELLE SOLARI E DIODI LUMINESCENTI. (teo: 1ora, lab: 4ore)

- CARATTERIZZAZIONE DELLA FUNZIONALITA' LOGICA E DELLA FUNZIONE DI TRASFERIMENTO DELLE PORTE LOGICHE BASATE SU TECNOLOGIE DIFFERENTI. (teo: 3ore, ese: 1ora, lab: 6ore)

- REALIZZAZIONE DI UN OSCILLATORE AD ANELLO PER LA CARATTERIZZAZIONE DINAMICA DELLE PORTE LOGICHE. (teo: 2ore, lab: 4ore)

- PROGETTAZIONE, ASSEMBLAGGIO E CARATTERIZZAZIONE DI SEMPLICI CIRCUITI ANALOGICI E DIGITALI. (teo: 2ore, ese: 2ore, lab: 11ore)

- SCRITTURA DI TEST SOFTWARE CON SISTEMI DI PROGRAMMAZIONE AD OGGETTO. (teo: 1ora, lab: 3ore)




Metodi Didattici
LEZIONI TEORICHE ED ESERCITAZIONI DI LABORATORIO, CHE SARANNO FINALIZZATE AL DIMENSIONAMENTO, MONTAGGIO E CARATTERIZZAZIONE DI DISPOSITIVI E DI CIRCUITI ELETTRONICI (DA SVOLGERE DA GRUPPI DI STUDENTI).


Le esercitazioni in aula hanno lo scopo di illustrare gli aspetti applicativi degli argomenti presentati nelle lezioni teoriche. Lo svolgimento del problema è curato dal docente e tende a stimolare nell’allievo:
•l’individuazione della metodologia di analisi e delle relazioni analitiche da utilizzare;
•la scelta della soluzione ottimale del problema
•la metodologia da seguire per una presentazione chiara dello svolgimento del problema.

Verifica dell'apprendimento
IL RAGGIUNGIMENTO DEGLI OBIETTIVI DELL’INSEGNAMENTO È CERTIFICATO MEDIANTE IL SUPERAMENTO DI UN ESAME CON VALUTAZIONE IN TRENTESIMI (IL LIVELLO MINIMO DI SUPERAMENTO CORRISPONDE A 18 ED IL MASSIMO A 30 E LODE).
L'APPRENDIMENTO VERRA VALUTATO MEDIANTE UN COLLOQUIO ORALE, CHE SI SVOLGE IN LINGUA ITALIANA O, SU RICHIESTA DELLO STUDENTE, IN ALTERNATIVA IN INGLESE. LA PROVA ORALE CONSISTE NELLA PRESENTAZIONE E NELLA DISCUSSIONE DELL' ELABORATO, BASATO SUI ESERCIZI CHE LO STUDENTE HA SVOLTO DURANTE I LABORATORI, E CHE LO STUDENTE IN SEDE DI ESAME PRESENTERA ALLA COMMISSIONE. LA VOTAZIONE DELLA PROVA ORALE SI BASA SULLA QUALITA' DELLA RELAZIONE, SULLA CONOSCENZA DELLO STUDENTE DELLA MATERIA DEL CORSO E SULLO SPIRITO CRITICO CON CUI PRESENTERA LA RELAZIONE.

Testi
- RICHARD C. JAEGER AND TRAVIS N. BLALOCK, MICROELETTRONICA, McGRAW HILL , EDIZIONE 2009.
- DATASHEET DISTRIBUITE A CURA DEL DOCENTE

Testi di consultazione e approfondimento:
- JOACHIM N. BURGHARTZ, STATE-OF-THE-ART ELECTRON DEVICES, WILEY AND IEEE PRESS, 2013.


Altre Informazioni
IL CORSO E' TENUTO IN LINGUA ITALIANA.
  BETA VERSION Fonte dati ESSE3 [Ultima Sincronizzazione: 2024-08-21]