Roberto PANTANI | Microscopia a Scansione di Sonda (AFM)
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PANTANI RobertoResponsabile Scientifico | |
SPERANZA VitoResponsabile Tecnico |
Caratterizzazione morfologica, a livello nanometrico, delle superfici mediante microscopia a scansione di sonda sia a temperatura ambiente che a temperatura fissata; caratterizzazione, a livello nanometrico, meccanica, termica ed elettrica delle superfici mediante microscopia a scansione di sonda. Miscoscopia ottica e caratterizzazione delle proprietà superficiali e del colore. Microscopia SEM |