Microscopia a Scansione di Sonda (AFM)

Laboratories

Members

PANTANI RobertoResponsabile Scientifico
SPERANZA VitoResponsabile Tecnico
Caratterizzazione morfologica, a livello nanometrico, delle superfici mediante microscopia a scansione di sonda sia a temperatura ambiente che a temperatura fissata; caratterizzazione, a livello nanometrico, meccanica, termica ed elettrica delle superfici mediante microscopia a scansione di sonda. Miscoscopia ottica e caratterizzazione delle proprietà superficiali e del colore. Microscopia SEM