2. Professors
  3. Research
  4. Publications

Publications

Daniele DE GRUTTOLA Publications


2024
Articolo in rivista
Constraints on directionality effect of nuclear recoils in a liquid argon time projection chamber
EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL. C, PARTICLES AND FIELDS. Vol. 84. Pag.1-18
ISSN:1434-6052.
Agnes, P.; Ahmad, I.; Albergo, S.; Albuquerque, I. F. M.; Alexander, T.; Alton, A. K.; Amaudruz, P.; Corona, M. Atzori; Ave, M.; Avetisov, I. Ch.; Azzolini, O.; Back, H. O.; Balmforth, Z.; Barrado-Olmedo, A.; Barrillon, P.; Basco, A.; Batignani, G.; Bocci, V.; Bonivento, W. M.; Bottino, B.; Boulay, M. G.; Busto, J.; Cadeddu, M.; Caminata, A.; Canci, N.; Cappello, G.; Capra, A.; Caprioli, S.; Caravati, M.; Cargioli, N.; Carlini, M.; Castello, P.; Cataudella, V.; Cavalcante, P.; Cavuoti, S.; Cebrian, S.; Ruiz, J. M. Cela; Chashin, S.; Chepurnov, A.; Chyhyrynets, E.; Cifarelli, L.; Cintas, D.; Citterio, M.; Cleveland, B.; Cocco, V.; Vilda, E. Conde; Consiglio, L.; Copello, S.; Covone, G.; Czubak, M.; D’Aniello, M.; D’Auria, S.; Da Rocha Rolo, M. D.; Davini, S.; de Candia, A.; De Cecco, S.; De Gruttola, D.; De Filippis, G.; Dell’Aquila, D.; De Pasquale, S.; De Rosa, G.; Dellacasa, G.; Derbin, A. V.; Devoto, A.; Capua, F. Di; Noto, L. Di; Dionisi, C.; Stefano, P. Di; Dolganov, G.; Dordei, F.; Elersich, A.; Ellingwood, E.; Erjavec, T.; Diaz, M. Fernandez; Fiorillo, G.; Franchini, P.; Franco, D.; Funicello, N.; Gabriele, F.; Gahan, D.; Galbiati, C.; Gallina, G.; Gallus, G.; Garbini, M.; Abia, P. Garcia; Gendotti, A.; Ghiano, C.; Giganti, C.; Giovanetti, G. K.; Casanueva, V. Goicoechea; Gola, A.; Grauso, G.; Cortona, G. Grilli di; Grobov, A.; Gromov, M.; Guan, M.; Guerzoni, M.; Gulino, M.; Guo, C.; Hackett, B. R.; Hallin, A. L.; Hamer, A.; Haranczyk, M.; Hessel, T.; Hill, S.; Horikawa, S.; Hubaut, F.; Hucker, J.; Hugues, T.; Ianni, An.; Ippolito, V.; Jillings, C.; Jois, S.; Kachru, P.; Kemmerich, N.; Kemp, A. A.; Kendziora, C. L.; Kimura, M.; Kochanek, I.; Kondo, K.; Korga, G.; Koulosousas, S.; Kubankin, A.; Kuss, M.; Kuzniak, M.; La Commara, M.; Lai, M.; Guirriec, E. Le; Leason, E.; Leoni, A.; Li, X.; Lidey, L.; Lissia, M.; Luzzi, L.; Lychagina, O.; Macfadyen, O.; Machulin, I. N.; Manecki, S.; Manthos, I.; Mapelli, L.; Margotti, A.; Mari, S. M.; Mariani, C.; Maricic, J.; Marini, A.; Martínez, M.; Martoff, C. J.; Matteucci, G.; Mavrokoridis, K.; Mcdonald, A. B.; Messina, A.; Milincic, R.; Mitra, A.; Moharana, A.; Monroe, J.; Moretti, E.; Morrocchi, M.; Mróz, T.; Muratova, V. N.; Muscas, C.; Musico, P.; Nania, R.; Nessi, M.; Nieradka, G.; Nikolopoulos, K.; Nowak, J.; Olchansky, K.; Oleinik, A.; Oleynikov, V.; Organtini, P.; de Solórzano, A. Ortiz; Pagani, L.; Pallavicini, M.; Pandola, L.; Pantic, E.; Paoloni, E.; Paternoster, G.; Pegoraro, P. A.; Pelczar, K.; Pesudo, V.; Piacentini, S.; Pino, N.; Pocar, A.; Poehlmann, D. M.; Pordes, S.; Pralavorio, P.; Price, D.; Ragusa, F.; Ramachers, Y.; Razeti, M.; Renshaw, A. L.; Rescigno, M.; Retiere, F.; Rignanese, L. P.; Ripoli, C.; Rivetti, A.; Roberts, A.; Roberts, C.; Rode, J.; Rogers, G.; Romero, L.; Rossi, M.; Rubbia, A.; Sabia, M. A.; Salomone, P.; Sandford, E.; Sanfilippo, S.; Santone, D.; Santorelli, R.; Savarese, C.; Scapparone, E.; Schillaci, G.; Schuckman, F. G.; Scioli, G.; Simeone, M.; Skensved, P.; Skorokhvatov, M. D.; Smirnov, O.; Smirnova, T.; Smith, B.; Sosa, A.; Spadoni, F.; Spangenberg, M.; Stefanizzi, R.; Steri, A.; Stornelli, V.; Stracka, S.; Stringer, M.; Sulis, S.; Sung, A.; Suvorov, Y.; Szelc, A. M.; Tartaglia, R.; Taylor, A.; Taylor, J.; Tedesco, S.; Testera, G.; Thieme, K.; Thorpe, T. N.; Tonazzo, A.; Tricomi, A.; Unzhakov, E. V.; John, T. Vallivilayil; Uffelen, M. Van; Viant, T.; Viel, S.; Vogelaar, R. B.; Vossebeld, J.; Wada, M.; Walczak, M. B.; Wang, H.; Wang, Y.; Westerdale, S.; Williams, L.; Wingerter-Seez, I.; Wojaczynski, R.; Wojcik, Ma. M.; Wright, T.; Xie, Y.; Yang, C.; Zabihi, A.; Zakhary, P.; Zani, A.; Zichichi, A.; Zuzel, G.; Zykova, M. P.
Digital Object Identifier (DOI): 10.1140/epjc/s10052-023-12312-1
Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-85181987537
Show it in Product Database (IRIS)