Heinrich Christoph NEITZERT | Pubblicazioni
Heinrich Christoph NEITZERT Pubblicazioni
1995 | |
Articolo in rivista | |
Waveguiding structure exhibiting various non-linear optical transfer functions realized with a Wannier-Stark modulator containing an InGaAs/InP superlattice JOURNAL OF NONLINEAR OPTICAL PHYSICS AND MATERIALS. Vol. 4. Pag.325-335 ISSN:0218-8635. | |
Neitzert, Heinrich Christoph; C., Cacciatore; D., Campi; C., Rigo | |
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1995 | |
Articolo in rivista | |
In-situ thickness control during plasma deposition of hydrogenated amorphous silicon films by time resolved microwave conductivity measurements APPLIED OPTICS. Vol. 34. Pag.676-680 ISSN:0003-6935. | |
Neitzert, Heinrich Christoph; W., Hirsch; M., Kunst; M. E. A., Nell | |
Codice identificativo ISI: WOS:A1995QE77300013 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0029255359 | |
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1995 | |
Articolo in rivista | |
In-situ measurements of the recombination at the crystalline silicon / amorphous silicon heterointerface by time resolved microwave conductivity measurements during low temperature annealing and silane plasma exposure JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY. A. VACUUM, SURFACES, AND FILMS. Vol. 13. Pag.2753-2757 ISSN:0734-2101. | |
Neitzert, Heinrich Christoph; M., Kunst | |
Codice identificativo ISI: WOS:A1995TF11100017 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0343557384 | |
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1995 | |
Articolo in rivista | |
InGaAs/InP superlattice electro-absorption waveguide modulator IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS. Vol. 7. Pag.875-877 ISSN:1041-1135. | |
Neitzert, Heinrich Christoph; C., Cacciatore; D., Campi; C., Rigo; C., Coriasso; A., Stano | |
Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0029359572 | |
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1995 | |
Articolo in rivista | |
Self-Electrooptic Effect Device in waveguiding configuration as optical switch and power discriminator ELECTRONICS LETTERS. Vol. 31. Pag.97-99 ISSN:0013-5194. | |
Neitzert, Heinrich Christoph; C., Cacciatore; D., Campi; C., Rigo | |
Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0029196938 | |
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1995 | |
Articolo in rivista | |
Laser pulse induced microwave conductivity and spectroscopic ellipsometry characterization of helium and hydrogen plasma damage of the crystalline silicon surface MATERIALS SCIENCE FORUM. Vol. 173&174. Pag.209-214 ISSN:0255-5476. | |
Neitzert, Heinrich Christoph; N., Layadi; P. Roca i., Cabarrocas; R., Vanderhaghen; M., Kunst | |
Codice identificativo ISI: WOS:A1995BC88Q00031 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0029212097 | |
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1995 | |
Articolo in rivista | |
In-situ measurements of changes in the structure and in the excess charge carrier kinetics at the silicon surface during hydrogen and helium plasma exposure JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. Vol. 75. Pag.1438-1445 ISSN:0021-8979. | |
Neitzert, Heinrich Christoph; N., Layadi; P. Roca i., Cabarrocas; R., Vanderhaghen; M., Kunst | |
Codice identificativo ISI: WOS:A1995RK57600008 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0029359920 | |
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1995 | |
Articolo in rivista | |
In-situ measurements of changes of the excess charge carrier decay rate at the crystalline silicon surface during low temperature annealing and cooling PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH. Vol. 151. Pag.371-377 ISSN:0031-8965. | |
Neitzert, Heinrich Christoph; W., Hirsch | |
Codice identificativo ISI: WOS:A1995TE52700013 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0029389285 | |
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