Pubblicazioni

Heinrich Christoph NEITZERT Pubblicazioni


1995
Articolo in rivista
In-situ measurements of the recombination at the crystalline silicon / amorphous silicon heterointerface by time resolved microwave conductivity measurements during low temperature annealing and silane plasma exposure
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY. A. VACUUM, SURFACES, AND FILMS. Vol. 13. Pag.2753-2757
ISSN:0734-2101.
H.C.Neitzert; M.Kunst
Codice identificativo ISI: WOS:A1995TF11100017
Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0343557384
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1995
Articolo in rivista
Waveguiding structure exhibiting various non-linear optical transfer functions realized with a Wannier-Stark modulator containing an InGaAs/InP superlattice
JOURNAL OF NONLINEAR OPTICAL PHYSICS AND MATERIALS. Vol. 4. Pag.325-335
ISSN:0218-8635.
H.C.Neitzert; C.Cacciatore; D.Campi; C.Rigo
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1995
Articolo in rivista
In-situ measurements of changes in the structure and in the excess charge carrier kinetics at the silicon surface during hydrogen and helium plasma exposure
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. Vol. 75. Pag.1438-1445
ISSN:0021-8979.
H.C.Neitzert; N.Layadi; P.Roca i Cabarrocas; R.Vanderhaghen; M.Kunst
Codice identificativo ISI: WOS:A1995RK57600008
Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0029359920
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1995
Articolo in rivista
Self-Electrooptic Effect Device in waveguiding configuration as optical switch and power discriminator
ELECTRONICS LETTERS. Vol. 31. Pag.97-99
ISSN:0013-5194.
H.C.Neitzert; C.Cacciatore; D.Campi; C.Rigo
Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0029196938
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1995
Articolo in rivista
In-situ measurements of changes of the excess charge carrier decay rate at the crystalline silicon surface during low temperature annealing and cooling
PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH. Vol. 151. Pag.371-377
ISSN:0031-8965.
H.C.Neitzert; W.Hirsch
Codice identificativo ISI: WOS:A1995TE52700013
Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0029389285
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1995
Articolo in rivista
In-situ thickness control during plasma deposition of hydrogenated amorphous silicon films by time resolved microwave conductivity measurements
APPLIED OPTICS. Vol. 34. Pag.676-680
ISSN:0003-6935.
H.C.Neitzert; W.Hirsch; M.Kunst; M.E.A.Nell;
Codice identificativo ISI: WOS:A1995QE77300013
Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0029255359
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1995
Articolo in rivista
InGaAs/InP superlattice electro-absorption waveguide modulator
IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS. Vol. 7. Pag.875-877
ISSN:1041-1135.
H.C.Neitzert; C.Cacciatore; D.Campi; C.Rigo; C.Coriasso; A.Stano
Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0029359572
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1995
Articolo in rivista
Laser pulse induced microwave conductivity and spectroscopic ellipsometry characterization of helium and hydrogen plasma damage of the crystalline silicon surface
MATERIALS SCIENCE FORUM. Vol. 173&174. Pag.209-214
ISSN:0255-5476.
H.C.Neitzert; N.Layadi; P.Roca i Cabarrocas; R.Vanderhaghen; M.Kunst
Codice identificativo ISI: WOS:A1995BC88Q00031
Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-0029212097
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1995
Brevetto
Dispositif de Traitement Optique pour Radiations Lumineuses
2,145,037 Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni (CSELT)
Heinrich Christoph Neitzert; Domenico Campi
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1995
Brevetto
Optical processing device for light radiation
5559323 Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni (CSELT)
Domenico Campi; Heinrich Christoph Neitzert
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