Alfredo RUBINO | Pubblicazioni
Alfredo RUBINO Pubblicazioni
| 2019 | |
| Articolo in rivista | |
| A Bit-Line Voltage Sensing Circuit With Fused Offset Compensation and Cancellation Scheme IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS. II, EXPRESS BRIEFS. Vol. 66. Pag.1633-1637 ISSN:1549-7747. | |
| Licciardo, Gian Domenico; Di Benedetto, Luigi; De Vita, Antonio; Rubino, Alfredo; Femia, Aldo | |
| Digital Object Identifier (DOI): 10.1109/TCSII.2019.2928456 Codice identificativo ISI: WOS:000489738500007 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-85072771822 | |
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149682Feasibility of 4H-SiC p-i-n Diode for Sensitive Temperature Measurements between 20.5 K and 802 K
| 2019 | |
| Articolo in rivista | |
| Feasibility of 4H-SiC p-i-n Diode for Sensitive Temperature Measurements between 20.5 K and 802 K IEEE SENSORS JOURNAL. Vol. 19. Pag.2871-2878 ISSN:1530-437X. | |
| Matthus, C. D.; Di Benedetto, L.; Kocher, M.; Bauer, A. J.; Licciardo, G. D.; Rubino, Alfredo; Erlbacher, T. | |
| Versione online | |
| Digital Object Identifier (DOI): 10.1109/JSEN.2019.2891293 Codice identificativo ISI: WOS:000461860100009 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-85063250829 | |
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| 2019 | |
| Contributo in Atti di convegno | |
| A Novel 4H-SiC UV Photo-Transistor based on a Shallow Mesa Structure. In: European Solid-State Device Research Conference Editions Frontieres Pag.246-249 ISBN:978-1-7281-1539-9 | |
| 49th European Solid-State Device Research Conference, ESSDERC 2019 polonia 2019 | |
| Di Benedetto, L.; Licciardo, G. D.; Rubino, A. | |
| Digital Object Identifier (DOI): 10.1109/ESSDERC.2019.8901687 Codice identificativo ISI: WOS:000520409500062 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-85075714524 | |
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| 2019 | |
| Contributo in volume (Capitolo o Saggio) | |
| Performance of 4H-SIC bipolar diodes as temperature sensor at low temperatures. In Gammon P.M.,Shah V.A.,McMahon R.A.,Jennings M.R.,Vavasour O.,Mawby P.A.,Padfield F. Materials Science Forum Pag.572-575 Trans Tech Publications Ltd. ISSN:0255-5476. | |
| Di Benedetto, L.; Matthus, C. D.; Erlbacher, T.; Bauer, A. J.; Licciardo, G. D.; Rubino, A.; Frey, L. | |
| Versione online | |
| Digital Object Identifier (DOI): 10.4028/www.scientific.net/MSF.963.572 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-85071844069 | |
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| 2019 | |
| Contributo in volume (Capitolo o Saggio) | |
| First experimental test on bipolar mode field effect transistor prototype in 4H-SIC: A proof of concept. In Gammon P.M.,Shah V.A.,McMahon R.A.,Jennings M.R.,Vavasour O.,Mawby P.A.,Padfield F. Materials Science Forum Pag.697-700 Trans Tech Publications Ltd. ISSN:0255-5476. | |
| Di Benedetto, L.; Licciardo, G. D.; Huerner, A.; Erlbacher, T.; Bauer, A. J.; Rubino, A. | |
| Versione online | |
| Digital Object Identifier (DOI): 10.4028/www.scientific.net/MSF.963.697 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-85071875692 | |
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