Ettore NAPOLI | Pubblicazioni
Ettore NAPOLI Pubblicazioni
| 2010 | |
| Articolo in rivista | |
| Analysis of large area Trench-IGBT current distribution under UIS test with the aid of lock-in thermography MICROELECTRONICS RELIABILITY. Vol. 50. Pag.1725-1730 ISSN:0026-2714. | |
| Riccio, Michele; Rossi, Lucio; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; R., Tagami; Y., Mizuno | |
| Digital Object Identifier (DOI): 10.1016/j.microrel.2010.07.072 Codice identificativo ISI: WOS:000282607400107 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-84755161831 | |
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211004A novel UIS test system with Crowbar feedback for reduced failure energy in power devices testing
| 2010 | |
| Articolo in rivista | |
| A novel UIS test system with Crowbar feedback for reduced failure energy in power devices testing MICROELECTRONICS RELIABILITY. Vol. 50. Pag.1479-1483 ISSN:0026-2714. | |
| Rossi, Lucio; Riccio, Michele; Napoli, Ettore; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo | |
| Versione online | |
| Digital Object Identifier (DOI): 10.1016/j.microrel.2010.07.080 Codice identificativo ISI: WOS:000282607400058 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-84755161413 | |
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| 2010 | |
| Articolo in rivista | |
| Truncated Binary Multipliers with Variable Correction and Minimum Mean Square Error IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS. I, REGULAR PAPERS. Vol. 57. Pag.1312-1325 ISSN:1549-8328. | |
| Petra, Nicola; DE CARO, Davide; Garofalo, Valeria; Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA | |
| Versione online | |
| Digital Object Identifier (DOI): 10.1109/TCSI.2009.2033536 Codice identificativo ISI: WOS:000281783800019 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-77953291373 | |
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