Gian Domenico LICCIARDO | Pubblicazioni
Gian Domenico LICCIARDO Pubblicazioni
| 2005 | |
| Articolo in rivista | |
| Experimental measurements of Majority and Minority Carrier Lifetime Profile in Si- epilayers by the use of an improved OCVD method IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS. Vol. 26. Pag.501-503 ISSN:0741-3106. | |
| Bellone, Salvatore; Licciardo, GIAN DOMENICO; S., Daliento; L., Mele | |
| Codice identificativo ISI: WOS:000230150400025 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-22944478015 | |
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