Gian Domenico LICCIARDO | Pubblicazioni
Gian Domenico LICCIARDO Pubblicazioni
| 2005 | |
| Articolo in rivista | |
| Experimental measurements of Majority and Minority Carrier Lifetime Profile in Si- epilayers by the use of an improved OCVD method IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS. Vol. 26. Pag.501-503 ISSN:0741-3106. | |
| Bellone, Salvatore; Licciardo, GIAN DOMENICO; S., Daliento; L., Mele | |
| Codice identificativo ISI: WOS:000230150400025 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-22944478015 | |
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| 2005 | |
| Contributo in Atti di convegno | |
| Modification of amorphous and microcrystalline silicon film properties after irradiation with MeV and GeV protons. In: Proceedings of the 20th European Photovoltaic Solar Energy Conference, Barcelona EU PVSEC Pag.1627-1630 ISBN:3936338191 | |
| 20th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition CCIB-International Convention Centre Barcelona, Spain 6–10 June 2005 | |
| Neitzert, Heinrich Christoph; M., Ferrara; Licciardo, GIAN DOMENICO; Y., Ma; W., Fahrner; E., Bobeico; P., DELLI VENERI; L. V., Mercaldo; L., Gialanella; M., Romano; B., Limata; DI BARTOLOMEO, Antonio; F. RAVOTTI, M. GLASER | |
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