Gian Domenico LICCIARDO | Pubblicazioni
Gian Domenico LICCIARDO Pubblicazioni
| 2004 | |
| Articolo in rivista | |
| Modeling and Characterization of the OCVD Response at an Arbitrary Time and Injection Level SOLID-STATE ELECTRONICS. Vol. 48. Pag.1127-1131 ISSN:0038-1101. | |
| Bellone, Salvatore; Licciardo, GIAN DOMENICO; Neitzert, Heinrich Christoph | |
| Versione online | |
| Digital Object Identifier (DOI): 10.1016/j.sse.2004.02.002 Codice identificativo ISI: WOS:000221174100007 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-1842854547 | |
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| 2004 | |
| Articolo in rivista | |
| Investigation of the damage as induced by 1.7 MeV protons in an amorphous/crystalline silicon heterojunction solar cell SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS. Vol. 83. Pag.435-446 ISSN:0927-0248. | |
| Neitzert, Heinrich Christoph; Spinillo, P.; Bellone, Salvatore; Licciardo, GIAN DOMENICO; Tucci, M.; Roca, F.; Gialanella, L.; Romano, M. | |
| Digital Object Identifier (DOI): 10.1016/j.solmat.2004.01.035 Codice identificativo ISI: WOS:000222153300010 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-2942558825 | |
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| 2004 | |
| Contributo in volume (Capitolo o Saggio) | |
| A Novel Measurement Method of the Spatial Carrier Lifetime Profile Based on the OCVD Technique. In 2004 Proceedings of the International Conference on Microelectronic Test Structures Pag.111-116 Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). ISBN:0780382625; 9780780382626 | |
| Bellone, Salvatore; Licciardo, GIAN DOMENICO; Neitzert, Heinrich Christoph | |
| Digital Object Identifier (DOI): 10.1109/ICMTS.2004.1309311 Codice identificativo ISI: WOS:000222087700020 Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-3042654671 | |
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