Pubblicazioni

Gian Domenico LICCIARDO Pubblicazioni


2006
Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
Test Structure Design for Measuring Electron and Hole Mobilities at Very High Injection.
In Proceedings of the International Conference on Microelectronic Test Structures Pag.181-186 Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE).
ISBN:1424401674; 9781424401673
Licciardo, GIAN DOMENICO
Codice identificativo ISI: WOS:000237219700030
Codice identificativo SCOPUS: 2-s2.0-33749521488
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